| 科目コード |
科 目 名 |
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| 3231 |
計測工学Ⅰ ： Instrumentation EngineeringⅠ |
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| 教 員 名 |
米澤 俊昭 ： YONEZAWA Toshiaki |
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| 学年 |
単位・時間 |
科目区分 |
授業形態 |
学修単位 |
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| 4S |
1･100分 |
必修 |
講義・後期 |
○ |
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| 授業概要 |
メカトロニクスに必要な計測技術およびその応用技術を基礎として、工業目的（例えば制御）を達成するためのシステム的な技術体系として計測工学を習得する。特に計測に対する基本的な取り組みならびに計測データの処理法について習得する． |
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| 到 達 目 標 |
評 価 方 法 |
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(1) 計測の意味を理解し、計測工学をシステム的技術の体系として捉えることができる。
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評価方法は
①中間試験（40％）、②期末試験（40％）、③小テスト・レポート（20％）とする。 |
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| 学習・教育目標 |
（C) ① |
JABEE基準１（１） |
（ｄ）－（１）－① |
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| 授 業 計 画 |
回 |
項 目 |
内 容 |
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計測工学の目的・意義 |
「測る」ということが自然科学の分野において重要であることを説明する。 |
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| 第１ |
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計測工学とは |
「計測」の意味を理解する。 |
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| 第２ |
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計測機器の利用形態 |
工業プロセスにおける計測機器の利用形態について理解する。 |
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| 第３ |
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単位と標準 |
計測に必要な量的にとらえる基準である単位について理解する。 |
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| 第４ |
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測定の基本的手法 |
直接測定、間接測定等の測定手法について説明する。 |
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| 第５ |
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測定誤差I |
測定誤差の原因や測定値の統計的分布について説明する。 |
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| 第６ |
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測定誤差II |
測定誤差の回避・低減や偶然誤差について説明する。 |
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| 第７ |
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中間まとめ |
中間まとめとして試験を実施する |
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| 第８ |
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測定精度 |
誤差の裏返しの概念である精度について説明する。 |
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| 第９ |
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測定データの統計的処理Ⅰ |
有効数字について説明する |
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| 第１０ |
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測定データの統計的処理II |
誤差の伝搬について説明する |
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| 第１１ |
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演習１ |
誤差の伝搬に関して演習を行う |
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| 第１２ |
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測定データの統計的処理Ⅲ |
最小二乗法について説明する |
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| 第１３ |
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演習２ |
最小二乗法に関して演習を行う |
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| 第１４ |
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まとめ |
全体の学習事項のまとめを行う。また授業評価アンケートを行う。 |
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| 第１５ |
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| 関連科目 |
制御工学Ⅰ、マイコン応用学 |
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| 教 科 書 |
計測工学、前田 良昭 他、コロナ社 |
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| 参 考 書 |
計測システム工学の基礎、西原 主計、森北出版 |
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| 授業評価・理解度 |
最終回に授業評価アンケートを行う |
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| 副担当教員 |
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| 備 考 |
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